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    C测试仪 3504-40

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    封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
    C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 测试源频率: 120Hz, 1kHz 高速测量: 2ms RS-232C
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    • 3年质保
    • CE

    ● 高速测量2ms ● 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
    ● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能
    ● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
    ● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
    ● 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

    输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件

    基本参数

    测量参数Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
    测量范围C:0.9400pF~20.0000mF
    D:0.00001~1.99000
    基本精度(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
    ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E为各系数
    测量频率120Hz, 1kHz
    测量信号电平恒压模式: 100mV (仅限3504-60), 500 mV, 1 V
    测量范围:
    CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
    CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
    CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
    输出电阻(CV测量范围以外的开路端子电压模式时)
    显示发光二级管 (6位表示,满量程计算器根据量程而定)
    测量时间典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
    ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
    功能BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)
    电源AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大110VA
    体积及重量260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
    附件电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1
    PC 通讯器
    打印机
    测试冶具或电缆
    • SMD测试治具9699
      SMD测试治具9699

      用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5

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    • SMD测试治具9677
      SMD测试治具9677

      用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm

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    • SMD测试治具9263
      SMD测试治具9263

      直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm

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    • 测试治具9262
      测试治具9262

      DC~8 MHz, 直接连接型

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    • 测试治具9261
      测试治具9261

      电缆连接型, DC ~ 5 MHz, 1m长

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    • 镊形探头L2001
      镊形探头L2001

      线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm

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    • 4端子测试探头 9140
      4端子测试探头 9140

      DC~100kHz, 1m长

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    涉及较多产品
    C测试仪3506-10
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    2019-08-23
    1708
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    涉及较多产品
    LCR测试仪系列
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    2023-08-09
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