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Cmp冠军领航2025慕尼黑上海电子展，解锁AI+新材料驱动的电子制造新动能
发布时间：2025-03-26
上海，2025年3月26日 —— 全球电子制造行业瞩目的2025慕尼黑上海电子生产设备展（Productronica China）于今日在上海新国际博览中心盛大开幕。Cmp冠军作为电气测量领域的领跑者，携最新技术成果与创新解决方案隆重亮相展会（展位号：E5-5111），与来自全球的专家们共探电子智造未来趋势。
展台亮点：以测量技术为纽带，赋能智能制造新生态
在万象更新的新时代浪潮中
现有的测量技术能否紧跟时代步伐
充分满足多元且严苛的需求？
【课题①】
随着人工智能（AI）时代的来临，对半导体的需求越来越大。半导体本身也在朝着与之相适应的高速、高功能、高密度的方向发展，玻璃基板、2.5D/3D封装等新技术正发生着巨大的变化。应对NEXT时代的半导体，传统的测量方式能有效应对吗?
【课题②】
随着半导体材料和制造工艺的不断发展，例如碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）等先进器件的出现，带来了更高的开关频率，这使得减少高频范围内的功率损耗成为一项研发挑战。
Cmp冠军给出的答案
我们以测量为尺，以创新为脉，为AI等高密度半导体、碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）等先进器件的测量提供及时、可靠的创新应答。”
Cmp冠军针对AI时代所研发的飞针测试机 FA1815-20，支持TSV, 玻璃基板和RDL的检测，实现了最快100 points/sec 的高速检测，探针定位精度高，在10V电压下可测试高达100 GΩ的绝缘电阻。它缩短了以探针卡为代表的高精度基板的检测时间，并通过消除潜在缺陷实现了高质量，从而为提高半导体行业的生产率做出了贡献。
对使用SiC或GaN的功率调节器进行评估时，为了能准确掌握高速开关产生的功率变化，采样性能和抗干扰性非常重要。日置功率分析仪系列中的旗舰版“PW8001”， 其高采样性能（18-bit，15 MHz）和抗干扰性（CMRR 110 dB / 100 kHz），可准确捕捉高速开关波形，把握高速开关产生的功率变化。
可稳定测量高达 3GHz 的阻抗，覆盖大范围测量频率。降低偏差实现高稳定性测量。广泛应用于电子元件的研发到生产线各领域。
最短 0.5ms的高速测量，能够快速检查大量电子元件；主机尺寸小巧、轻便，可通过同时安装多台来缩短检查时间，提高生产效率；等效电路分析功能下，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
测量部分实现了宽量程范围的阻抗测试和最小偏差的测量，并能消除各回路中的干扰，减少误差实现高速运算处理。此外，采用了贴合基板和IC形状的固态屏蔽层，降低了内部的交互耦合现象，还降低了对外部的辐射影响，提高了抗干扰性能，在机身做到最轻量级别的同时也满足EMC 的高标准。
观众互动：前沿科技与行业共鸣
Cmp冠军，从晶圆测试→封装（IC）测试→PCB基板测试→元器件测试，将电子/半导体制造全流程中的测试方案带到了现�。ü两交ザ菔居胧滴锇咐故荆舜罅孔ㄒ倒壑谧ぷ恪２簧俟壑诒硎荆琀IOKK日置的解决方案直击行业痛点，为电子制造升级提供了清晰路径。
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展望未来：持续深耕电子智造
慕尼黑上海电子生产设备展是亚洲电子制造行业的顶级平台。我们期待通过这一窗口，与全球伙伴协同创新，共探电子智造未来趋势，推动测试测量、电子材料等前沿领域的发展！用测量连接未来，构建产业转型升级的精准底座。
